多通道架构带来测量新挑战——MIMO测试首重同步性
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  • 分类:无线资料 - 设计开发
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【文件原名】:多通道架构带来测量新挑战MIMO测试首重同步性
【资料成文时间】:2006年
【语言】:中文
【页数】:5
【作者】:张俊杰
【文件格式】:pdf
【摘要或目录】:MIMO—OFDM技术是利用多支天线同时发送并接收数据,增加通讯带宽的应用效益,但是也为产品的测量带来新挑战。在研发设计端,针对MIMO的测量仪器必须考虑不同VSA及VSG之间的信号同步性,系统EVM的要求更严格。在生产线端,若能以接近于802.1 1 a/big的测试成本,来完成复杂的MIMO测试,将有助于降低成本。
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