多通道架构带来测量新挑战——MIMO测试首重同步性

【文件原名】：多通道架构带来测量新挑战MIMO测试首重同步性
【资料成文时间】：2006年
【语言】：中文
【页数】：5
【作者】：张俊杰
【文件格式】：pdf
【摘要或目录】：MIMO—OFDM技术是利用多支天线同时发送并接收数据，增加通讯带宽的应用效益，但是也为产品的测量带来新挑战。在研发设计端，针对MIMO的测量仪器必须考虑不同VSA及VSG之间的信号同步性，系统EVM的要求更严格。在生产线端，若能以接近于802．1 1 a／big的测试成本，来完成复杂的MIMO测试，将有助于降低成本。

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